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金相實驗-芯片分析案例分享
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芯片分析案例分享

客戶要求:芯片背面有很多小孔,孔內有環氧膠,需研磨至芯片上中下三個位置任一排小孔露出橫截面,能夠觀察孔內進膠情況,拍照并測量孔內進膠高度,記錄數值。

 

設備選型


實驗過程

一、鑲嵌
將樣件用樣品夾豎直夾持,檢測面向下,保證垂直緊貼于模具底部。


二、切割
將樣件用樣品使用鑲嵌件夾具夾持后,對準位置,啟動切割


三、切磨拋
將切割好的樣件按操作規程夾持在樣品盤上,對稱位置夾持輔助件(或一次磨拋3個以上樣品)

四、觀察